详细信息 HP-C-VE 光学测头HP-C-VE能够安装在测量机上，实现了大尺寸部件上面微小特征的放大测量。
HH-MI-M可支持任何使用M8螺纹连接的测头系统或配件，在保证高精度的同时还节省了操作时间，可配置长达50mm的M8螺纹加长杆；标配HP-TMe-SF吸盘，测针最长可接50mm
详细信息 HP-L-10.6 激光扫描测头功能完善的交钥匙方案，通过快速点云采集，完成与CAD 比较测量、自由曲面检测以及逆向工程等任务。
详细信息 HP-S-X1 扫描探测系统完善的系统配备，为通用的测量任务提供多种选择。包括手动、自动测座、模块化测头、更换架、探针、加长杆等等。
详细信息 HP-S-X3 扫描探测系统紧凑、高性价比、超高精确度的三维固定式扫描测头。
详细信息 HP-S-X5 扫描探测系统高承载、全三维、固定式扫描测头，即使在携带超长加长杆的情况下也可保证达到极快的速度和极高的精度。增加 X.wl kit 选项，可支持长达800mm，
详细信息 .HP-OW光学测头：应用白光共聚焦技术，
详细信息 HH-A-T5自动旋转测座，能够以5分度进行选装，在测量空间提供2952个位置。该测座能够快速分度，相对同类产品速度要快。结构牢固，能够携带最长300mm的加长杆。定位重复性0
